Встала проблема выявления скрытых дефектов: ультразвук вам поможет

Дефектоскопия - это процесс выявления и определения размеров различных дефектов материалов, которые находятся не на его поверхности. Распространенный метод - это, когда дефект выявляется с помощью ультразвука, потому что глазом его определить невозможно. Это называется ультразвуковой контроль, для него и нужен специалисту ультразвуковой дефектоскоп. При ультразвуковом контроле достаточно несложно выявить некоторые аномалии, которые подвластны только звуковым волнам.

Высокочастотные звуки предсказуемы, они ведут себя так обычно когда взаимодействуют с поверхностями или скрытыми, то есть внутренними дефектами. Продажей и производством ультразвуковых дефектоскопов занимается компания ПромГруппПрибор, дополнительную информацию об ассортименте продукции можно найти на их официальном сайте по адресу  http://pgpribor.com/, где можно найти несколько моделей новых ультразвуковых дефектоскопов, которые сочетают в себе возможности дифракционно-временного метода (ToFD) и возможности визуализации фазированных решёток.

Встала проблема выявления скрытых дефектов: ультразвук вам поможет

Дефектоскопия может применяться практически в любой отрасли, от композитов и металлов, используемых в аэрокосмической промышленности, до нефтехимических нефте- и газопроводов, резервуаров и производства электроэнергии, включая ядерную энергетику Наиболее распространенные аномалии включают трещины, пустоты и пористость в металлах, керамике и пластмассе в дополнение к расслаиванию и отслоению в композитах.

Преимущества ультразвукового контроля включают в себя:

Доступ требуется только с одной стороны для режима импульсного эха Глубина проникновения превосходит другие методы Высокоточные размеры и форма дефектов Требуется минимальная подготовка детали.Результаты в режиме реального времени

Современные портативные дефектоскопы интерпретируют отличительные звуковые эхо, испускаемые аномалиями. Дефектоскопы для визуализации обеспечивают цветное и ручное или автоматическое сканирование, позволяя генерировать легко воспринимаемые C-скан-изображения материала с полным полем обзора и значительно сократить время проверки.